新聞詳情

SANKO山高膜厚計的電渦流測量

日期：2025-04-26 23:04

瀏覽次數：237

摘要：

　　高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，SANKO山高膜厚計就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

　　SANKO山高膜厚計采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。

尊敬的客戶：

　　本公司還有UV照度計、EYE巖崎UV燈管、EXCEL聽音機等產品，您可以通過網頁撥打本公司的服務電話了解更多產品的詳細信息，至善至美的服務是我們的追求，歡迎新老客戶放心選購自己心儀產品，我們將竭誠為您服務！

下一篇： UV照度計基本介紹
上一篇： NDK日本電**差計的應用行業范圍

97在线播放-97在线播放视频-97在线公开视频-97在线观看-久久精品国产精品青草-久久精品国产精品青草不卡

SANKO山高膜厚計的電渦流測量