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產品名稱：重慶玉崎 IMV艾目微絕緣老化評價試驗 HiP-500/ｎ
產品型號：HiP-500/ｎ
產品廠商：IMV艾目微
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簡單介紹：

重慶玉崎 IMV艾目微絕緣老化評價試驗 HiP-500/ｎ重慶玉崎 IMV艾目微絕緣老化評價試驗 HiP-500/ｎ

詳情介紹：

供應商：京都玉崎(重慶）有限公司

聯系人：周先生

聯系電話：023-66376663

手機：15023222088

QQ:2853007783

郵箱：[email protected]

絕緣老化評價試驗 HiPー1000/n

產品特點：
絕緣老化評價試驗 HiPー1000/n
1.測得的相同的方式對MIG系列。采用雙重結構主動后衛線和1路/1電源/1測量電路的方法這是IMV*重要的特征，我實現了高電壓的應用。
2.對于高電壓應用，配備聯鎖防止誤動作。

通過裝備的互鎖，防止人為錯誤。
3.可擴展到多達256CH。（案例1：64CH）1000V，而作為一個500V應用，它是可擴展到高達256CH。

產品描述：

絕緣老化評價試驗 HiPー1000/n

產品規格：

モデル

HiP-500/ｎ

外加電壓

＋1000.0V

＋500.0Ｖ

通道數

8ＣＨ～64CH（增設8CH毎）

*大可擴展通道

64CH

絕緣電阻測量范圍

105Ω～1014Ω

測量范圍和直流電流測量范圍

0.1pA～250μA（5測量范圍）　※固定范圍、自動量程可選0.1pA～5ｎA
100pA～500ｎA
1ｎA～5A
10ｎA～50μA
100ｎA～250μA

電流值的測量精度

5ｎA范圍	：±5％±100pA
500ｎA范圍	：±3％±5ｎA
5μA范圍	：±2％±10ｎA
50μA范圍	：±1％±100ｎA
500μA范圍	：±1％±1μA(*大250μA)
注意）1000Ｖ對范圍內滿刻度在申請時

5ｎA范圍	：±5％±100pA
500ｎA范圍	：±3％±5ｎA
5μA范圍	：±2％±10ｎA
50μA范圍	：±1％±100ｎA
500μA范圍	：±1％±1μA（*大250μA）
注意）500Ｖ對范圍內滿刻度在申請時

偏置應用方法

通道獨立偏置方案（1電源→1CH）

偏壓設置
（0.1V單元可選）

＋1.0Ｖ～＋999.9Ｖ(群組[8CH]單元)

＋1.0Ｖ～＋500.0Ｖ(群組[8CH]單元)

偏置電壓范圍

1000Ｖ

500V

偏置放大器

運算放大器結構
輸出噪聲：*大±為5mV
采取了一系列的高壓穩壓電源高電壓放大器穩壓電源
100μsec順序由高壓運算放大器，響應速度快

偏置電壓精度

±（滿量程的0.5%±1Ｖ）

偏置電壓測量精度

±（滿量程的0.5%±1Ｖ）

*大試験可能時間

9，999 時間

測量方法

我不使用機械繼電器）所有通道直接測量
高速16位A/ D轉換器

測量電路

絕緣電阻的方法

電流測量電纜

二元結構主動后衛線

電纜開路檢測功能

測量/警告報警檢測輸出連接器電纜的損耗

記錄的數據內容

持續時間，使用時間，電阻和電流值和施加的電壓，和溫度/濕度（上腔連通選項）

個人電腦

OS：WindowsXP（Windows7計劃支持）

遷移測量模式

結束方式：退出遷移產生點
觸發方式：開始遷移產生的閾值，研究結束時在*后門檻
時間模式：發生遷移閾值，在結束閾值計數（*多50次）出現的次數

電源AC100Ｖ 50/60Hz

約1500VA/ラック（64CH）除了個人電腦

單位尺寸（不包括突出部分）

Ｗ430×Ｄ550×Ｈ635mm

質量

約85kg（64CH）

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產品名稱：重慶玉崎 IMV艾目微 絕緣老化評價試驗 HiP-500/ｎ

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