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產品詳情
  • 產品名稱:廠家直銷 KOBRA-WR 相位差測量裝置 OSI王子計測

  • 產品型號:KOBRA-WR
  • 產品廠商:OSI王子計測
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簡單介紹:
相位差測定裝置 KOBRA系列 從過去,但分子取向評價由于雙折射進行,使用折射計和偏振光顯微鏡費時的測量,這是相當難以準確地測量。 廠家直銷 KOBRA-WR 相位差測量裝置 OSI王子計測 KOBRA系列可以通過簡單的操作快速而準確地測量相位差,雙折射,方位角(折射率的*大方向)。 廠家直銷 KOBRA-WR 相位差測量裝置 OSI王子計測
詳情介紹:
相位差測定裝置
KOBRA系列
從過去,但分子取向評價由于雙折射進行,使用折射計和偏振光顯微鏡費時的測量,這是相當難以準確地測量。
KOBRA系列可以通過簡單的操作快速而準確地測量相位差,雙折射,方位角(折射率的方向)。

1.測量范圍寬···1nm?2· 
高重復性··±1nm· 
優異的操作性
4。實現軟件



KOBRA-WR

 

測量方法

平行尼科爾旋轉方法

測量波長

450500550590630750nm

標本

切樣本

測量目標

延遲板

樣本大小

垂直入射角度測定:30mm見方以上
入射角度依存性:30mm?40×50mmt3mm以下

測量區域

33毫米25.8毫米角:Jukoko面積)

軟件名稱

KOBRA-RE

測量項目

相差
定向角
三維折射率
Rth
 
面內延遲測量
入射角依賴
波長色散特性

設備配置

測量儀器主體光源裝置
計算機顯示器打印機

身體尺寸

W 501×D 830×H 700mm

體重

大約70公斤

安裝尺寸

W1500×D 900毫米


中國區總代 OSI王子計測 KOBRA-HB  相位差橢圓測量裝置  OSI王子計測

測量對象: ■延遲膜,Placel,偏光板
■光盤
■液晶盒
■磁帶基膜
■收縮膜
■其他通用膜
應用: ■研究和光學功能膜的開發,質量控制
■拉伸膜(三維折射率,表面取向)的取向評價
■包裝膜的熱收縮,抗撕裂性的評價等
■液晶單元,所述波長分散性的評價的扭曲角
■光學元件的透射橢圓偏振光的評價
設備名稱 相位差/橢圓
測量裝置
橢圓偏振測量裝置 相位差測量裝置 帶有進樣
器的相位差測量裝置
KOBRA-WR KOBRA-WR KOBRA-WR
設備類型 KOBRA-HB系列  KOBRA-WPR KOBRA-WR KOBRA-WFD




測量方法

平行尼科爾旋轉方法
旋轉偏振器法
平行尼科爾光譜法

平行尼科爾旋轉法
旋轉式偏振片法
平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾旋轉方法
測量波長 450,500,550,590,630,680nm 400-800nm 
(光譜學)
450,500,550,590,630,750nm
樣本大小 垂直入射角測定:30mm見方以上
入射角依存性:30mm?40×50mm,t 3以下
輪廓測量:
寬度50mm×長度可選
入射角依賴性:
30mm至40 ×50mm 
t 3或更小
測量區域
33毫米2(5.8毫米角:Jukoko面積)
φ0.8mm(光譜學)
33毫米2(5.8毫米角:Jukoko面積)
軟件名稱   KOBRA-RE 
KOBRA-PR 
KOBRA-TW
KOBRA-RE KOBRA - DSP / FD 
KOBRA - RE
測量項目   面內延遲測量
入射角依賴
波長色散特性
橢圓偏振測量
扭曲角測量
測試模式
面內延遲測量
入射角依賴
波長色散特性
相位剖面
入射角依賴
波長色散特性
設備名稱 用于長樣本的相位差測量裝置
相位差測量裝置的偏光板
在線相位差計 在線相位差計
kobra-wx 100 kobra-wx 100

KOBRA-311S

KOBRA-WR
設備類型 KOBRA-WX *** 系列 KOBRA-WX *** / IR 
系列
KOBRA-WI系列  KOBRA-WIS / RT




測量方法 平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾旋轉方法
測量波長 450,550,590,650nm
850,900,950,1000,1050,1100nm
590納米
樣本大小
取決于樣本階段
 
測量區域

33毫米2(5.8毫米角:Jukoko面積)

   
軟件名稱 KOBRA-DSP / X KOBRA-DSP / XIR  
測量項目 相位差和方位角
分布
PVA基材和碘的延遲譜 相位差 相位差,方位角(Rth)

設備名稱 微區
相差測量裝置
 相位差分布測量裝置
微區
橢圓計
一般膠片
在線相位差計
kobra-wx 100

設備類型 KOBRA-CCD KOBRA-IMS SAPA  KOBRA-WI / SPC




測量方法 平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾光譜學 旋轉分析儀的方法 平行尼科爾光譜學
測量波長
590納米
   
樣本大小    
測量區域        
軟件名稱    
測量項目 相位差分布,取向角分布 相位差分布,取向角分布的輪廓

相位差

相位差
中國區總代 OSI王子計測 KOBRA-HB  相位差橢圓測量裝置  OSI王子計測

設備名稱 極化方位測量儀
雙折射測量裝置
超高相位差測量裝置 便攜式橢圓偏振
測量裝置
設備類型 PAM-P 100 PAM-IMS 100 PAM-UHR 100 PAM-PTB 100




測量方法   平行尼科爾光譜學 平行尼科爾光譜學 旋轉分析儀的方法
測量波長
590納米
 
樣本大小   透明管,纖維,單軸拉伸膜 □40毫米,3毫米或更少
測量區域      
天然發光體如面板
軟件名稱    
測量項目 偏振方位角,透射率 相位差 相位差,方向角,雙折射 橢圓,橢圓形方位角
中國區總代 OSI王子計測 KOBRA-HB  相位差橢圓測量裝置  OSI王子計測

設備名稱 光軸測量裝置      
     
設備類型 PAM-PR 300      

測量方法 旋轉偏振片法
平行尼科耳旋轉法
正交尼科耳旋轉法
     
測量波長
590nm 
選項:
450nm,630nm
 
樣本大小 □30?250mm 
20mm厚度以下
   
測量區域 33 
平方毫米(5.8平方毫米:光接收器表面)
   
 
軟件名稱    
測量項目 偏振軸,方位角,相位差      
此外,還有專門用于面內相位差測量的KOBRA - WR 0和KOBRA - WPR 0型號,沒有樣品傾角功能。
此外,KOBRA - WRXY和KOBRA - WPRXY配備了自動XY工作臺(行程200 x 200毫米)在KOBRA - WR和KOBRA - WPR也可用。
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